X射线探伤仪 X-RAY 探傷機 XT H 225

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实验室用品|||包装机器・塑料袋 X射线探伤仪 X-RAY 探傷機 XT H 225 CC-2066-01 X 射线
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X射线探伤仪 X-RAY 探傷機XT H 225

特点

  • 非损检查方式,深入产品内部。
  • 最大60/75度的倾斜角度,轻松的检测产品内部特征,全面的观测产品。
  • 极高的16位分辨率成像,分辨率达到2μm,图像清晰,便于观测。
  • 放大倍率:XT V 130 达到1560 XT V 160 达到2400 测量产品更精确。
  • 双屏幕,便于观察。
  • 维护成本低。

X 射线 XT H 225 X-RAYX射线探伤仪 探傷機

实验室用品|||包装机器・塑料袋
※目录刊载页: 易购安实验用仪器・耗材目录6000号 566页

商品属性探傷機 X-RAY XT H 225

商品属性
商品名称X射线探伤仪 X-RAY 探傷機
X 射线 XT H 225
商品编号CC-2066-01
商品型号XT H 225
商品规格XT H 450
商品分类实验室用品|||包装机器・塑料袋
※目录刊载页: 易购安实验用仪器・耗材目录6000号 566页
商品简介
商品特点
  • 非损检查方式,深入产品内部。
  • 最大60/75度的倾斜角度,轻松的检测产品内部特征,全面的观测产品。
  • 极高的16位分辨率成像,分辨率达到2μm,图像清晰,便于观测。
  • 放大倍率:XT V 130 达到1560 XT V 160 达到2400 测量产品更精确。
  • 双屏幕,便于观察。
  • 维护成本低。
  • ※目录刊载页:易购安实验用仪器・耗材目录6000号566页
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